步入式恒溫恒濕測試室常用于通訊、光電、LED、電子等產(chǎn)品（如：光電產(chǎn)品、機算機整機或零配件、顯示器、觸摸屏、終端機、車用電子產(chǎn)品、主機板、電源供應(yīng)器、監(jiān)視器、交換式充電器、手機、電腦、照相機、電話機等）仿真出一種高溫、低溫、高低溫交變、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測試的設(shè)備。

步入式恒溫恒濕測試室技術(shù)參數(shù)：

一、可選擇操作的溫度范圍 ： A：0℃； B：-20℃； C：-40℃； D：-70℃～＋80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗室的溫度范圍）

二、濕度范圍 ： 20～98％R.H或 30～95％R.H（相對溫濕度圖請參考報價方案）

三、波動度 ： ≤±0.5℃；均勻度≤±2℃

四、試驗室控制精度 ：溫度±0.2℃、濕度±2％R.H；

五、試驗室溫度解析精度：0.01℃、試驗室濕度解析精度：0.1%R.H

六、試驗室溫度均勻度：±2℃；濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

七、溫度波動度：±0.5℃ （空載時）

八、安全保護(hù)裝置：超溫保護(hù)，防干燒保護(hù)，無熔絲開關(guān)，缺水保護(hù)，液位保護(hù)，保險絲，壓縮機超壓、過熱、過電流保護(hù)等眾保護(hù)裝置24小時保證設(shè)備的安全及穩(wěn)定性工作。

九、試驗室滿足與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如下：

GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB/T11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件；

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫；

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）